菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237核心定位與區(qū)別

與同系 231（平面臺 + 電動 Z）、232（手動 XY + 電動 Z）相比，237 的 XY 工作臺在防護罩開啟時自動移出裝卸位，大幅提升批量效率；

無損測量，符合 DIN ISO 3497、ASTM B568 等國際標準；

標配 WinFTM軟件+基本參數(shù)法（FP），可無標樣定量分析多層復雜鍍層。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237關鍵硬件參數(shù)

X 射線源：微聚焦鎢靶射線管（鈹窗）；10/30/50 kV 三檔高壓；3 種電動濾片（Ni/Al/ 無）；4 種準直器（0.1/0.3/0.6 mm，0.5×0.15 mm 狹縫），最小測量光斑0.1 mm；

探測器：比例計數(shù)管，兼顧速度與靈敏度；測量距離 0–80 mm，DCM 距離補償；

樣品臺：電動可編程 XY+Z；行程 255×235 mm（XY），Z 軸 140 mm；移動 80 mm/s；XY 單向重復精度≤0.01 mm；樣品高度 140 mm，額定承重 5 kg（降精度至 20 kg）；

定位系統(tǒng)：CCD 變焦視頻顯微鏡（1×/2×/3×/4×）+1 級激光指示，十字線帶標尺，可調 LED 照明；

元素范圍：Al（13）~U（92），同時分析最多 24 種元素；

電氣與尺寸：115/230 V 50/60 Hz；功耗≤120 W；IP40；570×760×650 mm；約 120 kg；帶 C 型槽防護罩可測超大平板（如 PCB）。